開孔面光源 ZSP-FK
條型光源 ZSP-L系列高均勻條型光源特別適合於大尺寸特微的成像場合,可充當背光源使用,多個條型光源可自由組合,照射角度也可根據檢測需求隨意調整。產品特點:1、高均勻條型照明光源有效解決對角度照射陰影問題2、照射角度可根據檢測需求隨意調整3、可充當背光源使用4、可適應大多環境的均勻照明應用範圍:1、電子元件識別檢測2、印刷品質檢測3、食品包裝檢測等
條型光源 ZSP-L系列高均勻條型光源特別適合於大尺寸特微的成像場合,可充當背光源使用,多個條型光源可自由組合,照射角度也可根據檢測需求隨意調整。產品特點:1、高均勻條型照明光源有效解決對角度照射陰影問題2、照射角度可根據檢測需求隨意調整3、可充當背光源使用4、可適應大多環境的均勻照明應用範圍:1、電子元件識別檢測2、印刷品質檢測3、食品包裝檢測等
開孔面光源 ZSP-FK系列
開孔面光源是一種平面照明光源,LED結構優化後,均佈在光源四週,經漫射導光板,在表面形成一片均勻的照射光,
且尺寸可自由定製,方便客戶的選擇。。
產品特點: 1、導光式設計,高均勻性 2、實現大幅面均勻照明 3、開孔面光源可做前光使用 | 應用範圍: 1、檢測四邊型尺寸測量 2、邊綠破損檢測 3、透明物體雜質檢測 4、口服液液位高度檢測 5、螺絲缺陷檢測 |
在機器視覺系統中,光源的作用主要體現在:
1.突出測量特徵,簡化影象處理演算法。
2.克服環境光的干擾,提高影象信噪比。
3.提高視覺系統的定位、測量、識別精度,以及系統的執行速度。
4.降低系統設計的複雜度。
型號說明:例:ZSP-FK200180-S35-X
ZSP | - | FK | 200 | 180 | - | S35 | X |
振勝 | 開孔背光 | 長 | 寬 | 開孔尺寸 | 顏色 |
開孔面光源結構圖 | 開孔面光源照射示意圖 |
---|---|
項 次 | 型 號 | 尺寸規格 | 電壓/功率 | |||
(點選型號開啟尺寸圖) | 發光面 | 發光面 | 中間 | |||
長 度 | 寬 度 | 開孔 | ||||
1 | ZSP-FK195175-S46-X | 160 | 160 | Θ46 | 24V/6W | 24V/10W |
2 | ZSP-FK200180-S35-X | 190 | 150 | Θ35 | 24V/6W | 24V/12W |
3 | ZSP-FK224174-S35-X | 200 | 150 | Θ35 | 24V/6W | 24V/12W |
4 | ZSP-FK250200-S48-X | 235 | 185 | 48 | 24V/8W | 24V/15W |
5 | ZSP-FK320160-S48-X | 305 | 145 | 48 | 24V/10W | 24V/18W |
6 | ZSP-FK420420-S50-X | 400 | 360 | Θ50 | 24V/12W | 24V/20W |
7 | ZSP-FK430412-S30-X | 400 | 400 | Θ30 | 24V/12W | 24V/24W |
8 | ZSP-FK440316-S50-X | 400 | 300 | Θ50 | 24V/11W | 24V/20W |
9 | ZSP-FK460436-S50-X | 420 | 420 | Θ50 | 24V/14W | 24V/24W |
10 | ZSP-FK475475-S40-X | 460 | 460 | Θ40 | 24V/15W | 24V/28W |
11 | ZSP-FK523452-S40-X | 489 | 418 | Θ40 | 24V/16W | 24V/30W |
12 | ZSP-FK532516-S40-X | 500 | 500 | Θ40 | 24V/18W | 24V/36W |
13 | ZSP-FK550500-S40-X | 531 | 481 | 40 | 24V/18W | 24V/36W |
14 | ZSP-FK800800-S60-X | 780 | 780 | Θ60 | 24V/30W | 24V/54W |
15 | ZSP-FK920630-S50-X | 900 | 900 | Θ50 | 24V/32W | 24V/45W |
在機器視覺系統中,光源的作用主要體現在:
1.突出測量特徵,簡化影象處理演算法。
2.克服環境光的干擾,提高影象信噪比。
3.提高視覺系統的定位、測量、識別精度,以及系統的執行速度。
4.降低系統設計的複雜度。
可依以下需求訂製需求 | |
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1.光源長、寬、高尺寸 | 2.光源多色訂製 |
3.發光面訂製 | 4.安裝方式訂製 |
在機器視覺系統中,光源的作用主要體現在:
1.突出測量特徵,簡化影象處理演算法。
2.克服環境光的干擾,提高影象信噪比。
3.提高視覺系統的定位、測量、識別精度,以及系統的執行速度。
4.降低系統設計的複雜度。